OLED-IVL及視角測量系統(tǒng)，是集成PR系列成像亮度計(jì)、源表、CCD精準(zhǔn)對位以及多軸高精度運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)的一整套測試方案。該系列設(shè)備具有4款標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型，可滿足客戶IVL測試時(shí)單工位、多工位、變溫以及帶視角測量等的不同測試需求。為廣大用戶在OLED器件研發(fā)與生產(chǎn)測試環(huán)節(jié)提供了便捷性與可靠性。

1、OLED-IVL及視角測量系統(tǒng)主要測試參數(shù)

·       IVL曲線繪制：IV曲線、電流密度、電流-亮度曲線、光效曲線、電流效率、流明效率

·       光學(xué)參數(shù)：亮度、XYZ三刺激值、CIE1931色坐標(biāo)x,y、CIE1976色坐標(biāo)u’ v’、峰值波長、光譜輻射度數(shù)據(jù)、CCT、EQE等

·       電學(xué)參數(shù)：電流、電壓、功率等

2、標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型

2.1單工位緊湊型OLED器件IVL及視角測量系統(tǒng)（OLED-IVL-Mini-M/A）

·       經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的科研/研發(fā)階段OLED器件IVL測試系統(tǒng)

·       適用于對空間要求嚴(yán)格的測量場景，可放置于手套箱用于未封裝器件使用。

·       可集成轉(zhuǎn)臺測量視角，可集成EQE積分球。

·       可按照需求定制測試距離兼容近攝頭及MS-75標(biāo)準(zhǔn)鏡頭。支持治具的靈活定制與切換。

·       手動(dòng)測量版和全自動(dòng)測量版本可選。

積分球(選配)

測量原理：

2.2單工位OLED器件IVL及視角測量系統(tǒng)（OLED-IVL-LAB ）

·       主要用于實(shí)驗(yàn)室科研或者產(chǎn)品研發(fā)階段的IVL測試。

·       可拓展成多工位機(jī)型，也可取消預(yù)留工位從而做小型化設(shè)計(jì)。

·       滿足器件高低溫IVL的測試。溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制，特殊溫度可定制。

·       滿足器件不同視角的測試。視角測量范圍最大可支持±90°，視角分辨率可達(dá)0.1°。

·       配備完整的視覺相機(jī)，可有效確保檢測中心與產(chǎn)品中心一致。

·       運(yùn)動(dòng)直線模組重復(fù)精度為±0.01mm，旋轉(zhuǎn)模組重復(fù)定位精度±0.1°，有效提高測試過程中的對位效率，提高準(zhǔn)確性。

檢測原理

2.3多工位帶視角OLED器件IVL測量系統(tǒng)（OLED-IVL-FA ）

·       系統(tǒng)配備多通道源表，可支持多工位測量（可根據(jù)具體器件和發(fā)光點(diǎn)數(shù)量定制）。

·       滿足器件高低溫IVL的測試。溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制，特殊溫度可定制。

·       滿足器件不同視角的測試。視角測量范圍最大可支持±90°，視角分辨率可達(dá)0.1°。

·       配備完整的視覺相機(jī)，可有效確保檢測中心與產(chǎn)品中心一致。

·       運(yùn)動(dòng)直線模組重復(fù)精度為±0.01mm，旋轉(zhuǎn)模組重復(fù)定位精度±0.1°，有效提高測試過程中的對位效率，提高準(zhǔn)確性。

多工位旋轉(zhuǎn)治具

測試原理

2.4多工位OLED器件IVL綜合測量系統(tǒng)（OLED-IVL-FA-PRO ）

系統(tǒng)特點(diǎn)：

·       系統(tǒng)配備多通道源表，可支持多工位測量（可根據(jù)具體器件和發(fā)光點(diǎn)數(shù)量定制）。

·       同時(shí)配備多組治具，支持常溫、高低溫、不同角度的多種需求混合測試。

·       溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制，特殊溫度可定制。

·       視角測量范圍最大可支持±90°，視角分辨率可達(dá)0.1°。

·       配備完整的視覺相機(jī)，可有效確保檢測中心與產(chǎn)品中心一致。

·       運(yùn)動(dòng)直線模組重復(fù)精度為±0.01mm，旋轉(zhuǎn)模組重復(fù)定位精度±0.1°，有效提高測試過程中的對位效率，提高準(zhǔn)確性。

測試原理：

3、標(biāo)準(zhǔn)軟件

IVL測試主界面

手動(dòng)界面

光譜圖

CIE

IVL曲線