Kaleo MultiWave 光學元件面型測量儀是一臺多波長工作的光學元件面形測試系統(tǒng)，用于替代昂貴、低效、操作復雜的干涉儀，測量光學元件的表面面形、透過波差等參數(shù)。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-11-08

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Kaleo MultiWave 是一臺多波長工作的光學元件面形測試系統(tǒng)，用于替代昂貴、低效、操作復雜的干涉儀，測量光學元件的表面面形、透過波差等參數(shù)。

Kaleo MultiWave 通過單次測量即可提供完整的3-D形貌及非平面元件的曲率。所有表面質(zhì)量參數(shù)尊崇ISO 10110標準。表面不規(guī)則，粗糙度以及波紋亦可測試。

Kaleo MultiWave*的多波長測試功能可以在光學元件設(shè)計的工作波長進行測試，從而對光學元件基底、鍍膜獲得完整的評價。儀器具備和傳統(tǒng)干涉儀同等的精度，同時具備更大的動態(tài)范圍以測試復雜面形的光學元件。測試以雙程模式工作，兼容透射與反射測量。

多波長干涉儀：

同一機臺，多個波長

標配：625nm - 780nm - 1050nm

可選：UV - 400nm - 1100nm - 短波紅外

高動態(tài)范圍：

> 20um PV

高度畸變波前測試

高精度：

精度與干涉儀同等

高重復度，低噪聲

高性價比的干涉儀解決方案

規(guī)范：

遵從ISO 5725 標準

兼容MetroPro 格式

兼容 ISO 10110 格式

用途：

表面面形測試

鍍膜（AR，介質(zhì)膜，金屬膜測試......）

窗片，干涉濾光片測試

透鏡，非平面鏡測試

應(yīng)用：

光學元件研發(fā)制造

濾光片及窗片制造

空間及防務(wù)

汽車工業(yè)

激光器及其應(yīng)用

光學元件面型測量儀KALEO MultiWave技術(shù)指標：