棱鏡耦合測(cè)試儀采用棱鏡耦合方法測(cè)試樣品折射率，可測(cè)試波長(zhǎng)633nm、935nm、1549nm處的折射率值，通過(guò)軟件做曲線耦合科求出任何波段的模擬值。

       測(cè)試儀提高了用戶友好的控制程序，和新測(cè)量的功能，允許測(cè)量從常見(jiàn)到特殊的薄膜而不需依靠?jī)?nèi)部系數(shù)或菜單式校準(zhǔn)曲線，不必預(yù)先知曉厚度及折射率，±.0005常規(guī)折射率分辨率-尤其在大批量生產(chǎn)時(shí)比其他技術(shù)更具優(yōu)勢(shì)（可獲得更高折射率），通用化-沒(méi)有固定的薄膜/基底合并菜單，可測(cè)量雙膜結(jié)構(gòu)中的單膜厚度及折射率，體材料或基底材料的高精度折射率測(cè)量，快速測(cè)量薄膜或漫反射光波導(dǎo)參數(shù)。

       測(cè)試儀將APD和PIN-TIA的耦合測(cè)試整合于一體，方便使用，可高精度、快速檢測(cè)Vbr、響應(yīng)度和接收信號(hào)強(qiáng)度，提供4個(gè)波長(zhǎng)的調(diào)制光源，響應(yīng)電流測(cè)試條件可以選擇加電壓Vbr-X、定點(diǎn)輸出X，系統(tǒng)自帶大尺寸液晶顯示屏。棱鏡耦合測(cè)試儀可精確顯示雪崩電壓，響應(yīng)電流等性能參數(shù)并提供示波器輸出接口，方便耦合觀測(cè)，采用無(wú)極旋鈕，方便操作并帶有掉電記憶功能。

       電壓電源和加電開(kāi)關(guān)具備緩沖電保護(hù)電路、防過(guò)充、反沖、ESD和浪涌等保護(hù)電路，高壓腳接地，測(cè)試雪崩電壓超過(guò)75V和TIA電流超過(guò)設(shè)置范圍會(huì)停止測(cè)試保護(hù)器件，支持上位機(jī)保存數(shù)據(jù) 并查詢，數(shù)據(jù)刷新速度達(dá)到5ms，查詢間隔10~15ms。