光譜式測(cè)量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術(shù)提供了zui高精度的亮度、色度測(cè)量。現(xiàn)有的光譜式測(cè)量的主要不足是需要很長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。Photo Research的A-TAKT™系列光譜式輻射度計(jì)彌補(bǔ)了這一不足，實(shí)現(xiàn)了光譜式精度的實(shí)時(shí)產(chǎn)線測(cè)試。
A-TAKT™系列包含三款——V-7HS、V-7WD和V-6AQL，針對(duì)FPD產(chǎn)線測(cè)試不同測(cè)試應(yīng)用。具有如下總的特點(diǎn)：

1、V-7HS是三者中靈敏度zui高、測(cè)試速度zui快的機(jī)型，可在不影響測(cè)試度和重復(fù)測(cè)試精度的前提下，zui短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)zui大數(shù)量的產(chǎn)品測(cè)試——毫秒時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)低亮度測(cè)試，在僅250ms的測(cè)試時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)0.5cd/m²的微弱亮度測(cè)試（測(cè)試LED背光LCD）；幾秒鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)完整的灰度等級(jí)、Gamma和色度測(cè)試（取決于亮度等級(jí)和測(cè)試數(shù)量）等。

V-7HS：高精度，快速測(cè)量，針對(duì)于低亮測(cè)試應(yīng)用

2、V-7WD則提供了高速測(cè)量的解決方案，針對(duì)高亮背光模組、LED模組等高度和重復(fù)精度的*化測(cè)試。具備更寬的亮度測(cè)試范圍：0.002-60000 cd/m²（如測(cè)試白光LED），近乎實(shí)時(shí)的快速、高、高重復(fù)性光譜輻射度計(jì)。

V-7WD：快速，高光譜分辨率，適用于高亮發(fā)光源測(cè)試

3、而V-6AQL則專為簡(jiǎn)潔的工業(yè)檢測(cè)量身定制，針對(duì)關(guān)鍵環(huán)節(jié)的測(cè)量，如AQL、IQC及OQC等提供的解決方案。一方面具有更低成本，另一方面光譜式設(shè)計(jì)保證度和重復(fù)精度，滿足或優(yōu)于客戶的生產(chǎn)需求。

V-6AQL：經(jīng)濟(jì)、便攜的解決方案，適用于QC/QA測(cè)試

4、靈活的定制——由于產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境的不同（如工作距離、測(cè)試區(qū)域和系統(tǒng)控制接口等），如上述表格，A-TAKT™系列提供有不同配置，包括鏡頭的定制（滿足不同工作距離、光斑尺寸的測(cè)試需求），易于開(kāi)發(fā)的SDK包以更快捷、輕松集成到用戶的ATE系統(tǒng)， 針對(duì)不同測(cè)試對(duì)象的“EasyProfile”自分析技術(shù)等。